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日本INTECS UIH-3D型高亮度單色燈：技術與實用性的平衡

發布時間： 2025-06-18　　點擊次數： 205次

在現代工業和科研領域，高亮度照明設備對于提高檢測效率和準確性至關重要。日本INTECS公司推出的UIH-3D型高亮度單色燈，憑借其技術性能和廣泛的實用性，成為了視覺檢查和表面檢測領域的理想選擇。
技術特點
UIH-3D型高亮度單色燈采用了100V、650W的高亮度鹵素燈，能夠在設計照射直徑中心達到約30萬勒克斯（lux）的亮度。
這種高強度的光源能夠有效激發Chindal現象（即光散射現象），使得物體表面的劃痕、污垢、內部異物和氣泡等缺陷在視覺檢查中更加清晰。
此外，該設備配備了大直徑非球面鏡頭，能夠將光線聚焦到更小的區域，從而提高照明強度和均勻性。其設計照射直徑為100毫米，照射距離為270毫米，能夠滿足多種檢測需求。UIH-3D還具備SCR調光控制功能，支持50/60Hz自動切換，亮度可調節范圍寬，能夠適應不同的檢測環境。
在安全性方面，UIH-3D配備了過熱保護功能，當燈箱內溫度超過約130°C時，燈會自動關閉，以防止損壞。此外，即使關閉主電源開關，風扇也會繼續冷卻燈箱，直到溫度降至約40°C以下，從而延長燈泡壽命。
實用性分析
UIH-3D型高亮度單色燈的實用性體現在多個方面。首先，它能夠為半導體晶片、掩模玻璃、硬盤、液晶面板、鏡頭等高精度產品的表面檢查提供強大的支持。這種高亮度的照明設備能夠幫助檢測人員快速發現微小的缺陷，從而提高生產效率和產品質量。
其次，UIH-3D的高亮度和可調節性使其在多種復雜環境中表現出色。無論是用于實驗室的精密檢測，還是在工業現場的快速檢查，它都能提供穩定可靠的光源。此外，其較長的燈泡壽命（最高亮度下超過75小時，半亮度下超過1800小時）也大大降低了使用成本。
應用場景
UIH-3D型高亮度單色燈廣泛應用于半導體制造、電子元件檢測、光學器件檢測等領域。在半導體制造中，它能夠幫助檢測晶片表面的劃痕和雜質，確保產品質量。在電子元件檢測中，UIH-3D可用于檢測電路板上的焊接缺陷和元件損壞。此外，它還可用于光學鏡頭的表面檢測，幫助發現微小的劃痕和污漬。
結論
日本INTECS的UIH-3D型高亮度單色燈憑借其強大的技術性能和廣泛的實用性，成為了視覺檢查和表面檢測領域的可靠工具。它不僅能夠提供高強度的照明，還具備良好的安全性和耐用性無論是在實驗室還是在工業現場，UIH-3D都能為檢測工作提供有力支持，是現代檢測設備中的一員。

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